Нейтронный дифрактометр высокого давления в нейтронном источнике в городе Дунгуань, провинция Гуандун, южный Китай. Фото.

Более 500 китайских специалистов собрались на конференцию, проходившую со среды по пятницу в городе Ланьчжоу (Lanzhou) в северо-западной китайской провинции Ганьсу, чтобы изучить возможности комплексного использования двух крупных научных установок, известных как супермикроскопы, для изучения Хэфэйского источника света (HLS) и Китайского источника нейтронов (CSNS), которые известны как микроскопические структуры.

HLS - первый источник синхротронного излучения в Китае, а CSNS - первый в Китае и четвертый в мире источник импульсных нейтронов.

Ван Шэн, заместитель директора Института физики высоких энергий (IHEP) при Китайской академии наук, в своем выступлении на конференции отметил, что HLS и CSNS используют рентгеновские лучи и нейтроны для изучения микроструктуры и свойств вещества. Комплексное использование двух крупных научных установок позволяет получить полную структурную информацию о материалах, сказал Ван.

Ван отметил, что конференция создала платформу для обмена идеями между экспертами и пользователями, добавив, что участники с нетерпением ждут возможности использовать две крупные научные установки для проведения высоких научных исследований и содействия дальнейшему применению источников синхротронного излучения и нейтронных источников в таких междисциплинарных областях, как материаловедение, жизнь и окружающая среда, энергетический катализ и инженерные технологии.

Эксперты предлагают в полной мере использовать дополнительные преимущества нейтронного рассеяния и технологии синхротронного излучения, чтобы способствовать междисциплинарной интеграции, развитию передовых отраслей промышленности и академическому сотрудничеству.

Конференция была организована совместно Китайским университетом науки и технологий и IHEP.

D.

CMG / gnews.cz-jav